Scanning electron microscopes | Tenderlake

Scanning electron microscopes

Contract Value:
EUR 218K - 218K
Notice Type:
Contract award notice
Published Date:
05 August 2022
Closing Date:
Location(s):
DEB11 Koblenz, Kreisfreie Stadt (DE Germany/DEUTSCHLAND)
Description:
Rasterelektronenmikroskop

Der Auftraggeber plant die Neuanschaffung eines Rasterelektronenmikroskops mit EDX-Analytik auf Grundlage eines Forschungsprojektes. Die Anlage soll vornehmlich zur Analyse oxidkeramischer Verbindungen aus dem Bereich von Feuerfesten Werkstoffen, zur Analyse von Korrosionszonen Einschlüssen als zur Untersuchung von feinen Kohlenstoff-Modifikationen genutzt werden.Proben sind vornehmlich:

- Feuerfest-Keramiken, Korrosionszonen, organische Bindersysteme (Steinkohlenteerpeche, Harze), anorganische Werkstoffe

Die eingesetzten Feuerfest-Keramiken auf Basis von Al-, Ca- und Mg-Oxiden; Kohlenstoffverbindungen wie Graphite, Ruße, Steinkohlenteerpeche; Untersuchung von Grünlingen, d.h. nicht gesintertes Material sowie wie auch gesinterte Proben.

Auftragsgegenstand ist ein Rasterelektronenmikroskop mit SE- und BSE Detektor, Niedervakuum-Modus mit Niedervakuum-SE-Detektor, Bedienpanel, Steuerung der Landungsenergie durch Gegenfeld, EDX Detektor (Auflösung >= 127 eV @ Mn-K alpha und >= 56 eV @ C-K alpha, jeweils bei Zählraten >= 100.000 cps) mit einer Sensorfläche von >= 60 mm² inkl. den passenden Software Funktionen für einen Echtzeit-Darstellung der chemischen Zusammensetzung der Probe, Echtzeit-Spektrum, Echtzeit-Mapping, einer Berichterstellungsfunktion und einer automatischen Driftkorrektur. Hinzu kommt die Steuerungssoftware des Mikroskops auf einem Windows-basierten Instrumentenrechner mit Monitor sowie EDX-Steuerungssoftware auf separatem Windows-basierten Rechner mit Monitor.

Awarded to:
Rasterelektronenmikroskop
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH, Oberkochen (DE)
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The Buyer:
Universität Koblenz-Landau
CPV Code(s):
38511100 - Scanning electron microscopes