fornitura e posa in opera di un microscopio a doppio fascio Ionico Focalizzato – Scansione Elettronico (FIB-SEM) per il Dipartimento di Ingegneria, secondo le norme di legge che regolano lo specifico settore, come dettagliatamente citate nel Capitolato Tecnico

fornitura e posa in opera di un microscopio a doppio fascio Ionico Focalizzato – Scansione Elettronico (FIB-SEM) per il Dipartimento di Ingegneria, secondo le norme di legge che regolano lo specifico settore, come dettagliatamente citate nel Capitolato Tecnico