Scanning electron microscopes | Tenderlake

Scanning electron microscopes

Contract Value:
EUR 258K - 258K
Notice Type:
Contract award notice
Published Date:
17 November 2021
Closing Date:
Location(s):
DE916 Goslar (DE Germany/DEUTSCHLAND)
Description:
Rasterkraftmikroskop (AFM)

Es wird ein Rasterkraftmikroskop benötigt, welches einerseits robust und anwenderfreundlich ist und welches andererseits die Kombination mit der optischen Mikroskopie und Schwingquarzmikrowaage (QCM) erlaubt.

Es wird ein Rasterkraftmikroskop benötigt, welches einerseits robust und anwenderfreundlich ist und welches andererseits die Kombination mit der optischen Mikroskopie und Schwingquarzmikrowaage (QCM) erlaubt.

Awarded to:
Lieferung eines Rasterkraftmikroskops
Park Systems Europe GmbH, Mannheim (DE)
Download full details as .pdf
The Buyer:
Technische Universität Clausthal
CPV Code(s):
38511100 - Scanning electron microscopes