Checking and testing apparatus | Tenderlake

Checking and testing apparatus

Contract Value:
-
Notice Type:
Contract Notice
Published Date:
16 November 2016
Closing Date:
12 December 2016
Location(s):
DED21 Dresden, Kreisfreie Stadt (DE Germany/DEUTSCHLAND)
Description:

Kauf, Installation und Abnahme einer X-FIB.



Kauf und Installation eines Xe-Plasma Focused-Ion Beam (Xe-FIB/SEM). Hauptanwendung des Systems ist die Präparation von Proben, d. h. Ionenstrahl-Strukturierung und strahlinduzierte Abscheidung, mit charakteristischen Dimensionen auf der Mikrometer-Skala.

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The Buyer:
Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e. V.
CPV Code(s):
38500000 - Checking and testing apparatus