Fornitura di una strumentazione costituita da un microscopio elettronico a scansione di tipologia FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscope) ed un microscopio ottico a super risoluzione (l’insieme dei due strumenti è anche definito Correlative Light-Electron Microscopy o con l’acronimo CLEM).

Fornitura di una strumentazione costituita da un microscopio elettronico a scansione di tipologia FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscope) ed un microscopio ottico a super risoluzione (l’insieme dei due strumenti è anche definito Correlative Light-Electron Microscopy o con l’acronimo CLEM).