Scanning electron microscopes | Tenderlake

Scanning electron microscopes

Contract Value:
EUR 428K - 428K
Notice Type:
Contract award notice - defence/security
Published Date:
06 July 2013
Closing Date:
Location(s):
FR623 Haute-Garonne (FR FRANCE)
Description:
Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG (Field Emission Gun).

Tranche Ferme - poste 1 : Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG (Field Emission Gun) Tranche Ferme - poste 2 : intégration du spectomètre à dispersion d'énergie X-MAX d'oxford Instrument Tranche Conditionnelle 1 : maintenance préventive et corrective de l'appareil sur une période de sept ans.Le présent projet de marché est soumis à la procédure de marché négocié après publication préalable et mise en concurrence conformément aux dispositions des articles 201-1 1°, 34, 243, 244, 247 et 248 du code des marchés publics.

Awarded to:
tranche Ferme - poste 1 : Fourniture, installation et mise en service d'un microscope électronique à balayage à effet de champ ou MEB-FEG (Field Emission Gun) Tranche Ferme - poste 2 : intégration du spectomètre à dispersion d'énergie X-MAX d'oxford Instrument Tranche Conditionnelle 1 : maintenance préventive et corrective de l'appareil sur une période de sept ans.
JEOL (europe) SAS, Croissy-sur-Seine (FR)
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The Buyer:
DGA techniques aéronautiques
CPV Code(s):
38511100 - Scanning electron microscopes