Für das Institut für Werkstoffforschung am Helmholtz-Zentrum Geesthacht (folgend HZG), zu dem u. a. das German Material Science Center (GEMS) gehört soll für die Charakterisierung und Herstellung von mikroskopischen Proben eine kombinierte Rasterelektronenmikroskop-Ionenfeinstrahlanlage beschafft werden (engl. scanning electron microscpope and focused ion beam system, abgekürzt SEM/FIB, im Folgenden kurz „FIB“).
Für das Institut für Werkstoffforschung am Helmholtz-Zentrum Geesthacht (folgend HZG), zu dem u. a. das German Material Science Center (GEMS) gehört soll für die Charakterisierung und Herstellung von mikroskopischen Proben eine kombinierte Rasterelektronenmikroskop-Ionenfeinstrahlanlage beschafft werden (engl. scanning electron microscpope and focused ion beam system, abgekürzt SEM/FIB, im Folgenden kurz „FIB“).
Das FIB wird primär eingesetzt um 3-dimensionale mikroskopische Strukturen aus dem zu untersuchenden Probenkörper herauszuarbeiten, um diese Strukturen aus dem Probenkörper herauszulösen und auf einen geeigneten Probenträger zu fixieren (der Probenträger mit der Probe wird anschließend z. B. in die Nanotomographie-Anlage eingesetzt für die eigentliche Untersuchung).
Die im FIB zu bearbeitenden Probenkörper können verschiedensten Materialklassen angehören: Metalle, Halbleiter, Polymere, Keramiken, biologische Materialien, biologisches Gewebe oder Kombinationen aus diesen. Daneben wird das FIB auch für die oberflächliche und oberflächennahe Charakterisierung (mittels Elektronenmikroskopie und EDX/EBSD) sowie für die volumetrische Analyse (mittels FIB-Tomographie) der Probenkörper sowie der angefertigten Probenstrukturen eingesetzt.
Mit der neu zu beschaffenden Anlage, welche mit einer Edelgas-Plasma-Ionenquelle arbeiten soll, sollen die zu präparierenden Proben frei von Metall-Verunreinigungen und mit einer Abtragsrate präpariert werden, die die Herstellung mehrerer Proben aus verschiedenen Probenkörpern an einem Arbeitstag ermöglicht um den stetig steigenden Bedarf an Probenpräparations-Leistungen unserer Nutzer decken zu können.
Die Abtragsauflösung muss um den Faktor 2 besser als die Auflösung der vorhandenen Nanotomographie-Anlage sein (z. Zt. 37 nm) um Nanotomographiedaten ohne sichtbare Artefakte in der Probengeometrie zu erhalten. Die neue Anlage soll ferner mit einer Elektronenoptik ausgestattet sein, die im Rasterelektronenmikroskop-Modus auch leitende und magnetisierbare Proben mit höchster Auflösung abbilden kann da Metallproben einen signifikanten Anteil an unseren Forschungsaktivitäten haben.
Aufgrund der genannten technischen und methodischen Gegebenheiten sind die spezifizierten technischen Mindestanforderungen zwingend erforderlich.
Das HZG behält sich vor die Aufforderung zur Demonstration/Teststellung des angebotenen Gerätekonzepts beim Bieter vor Ort oder bei einem Referenzkunden, die Präsentation/Teststellung muss in deutscher oder englischer Sprache erfolgen und sämtliche Vorgaben der Leistungsbeschreibung bestätigen.
Vor dem Hintergrund der Corona-Pandemie-Empfehlungen erfolgt dies nur im Bedarfsfall und nur mit dem erst- ggf. zweit-aussichtsreichsten Bieter.
Die Finanzierung dieses Systems ist fördermittelgebunden, sie ist mithin in ihrem Gesamtwert limitiert und setzt eine Abnahme der Anlage bis zum 18.12.2020 voraus. Bei Überschreitung des Budgets bleibt die Aufhebung gemäß § 63 VgV vorbehalten. Zudem ist aus diesen Gründen auch das Angebot eines Gebraucht- oder Vorführgeräts zulässig unter der Maßgabe, dass das angebotene Gerät zum Zeitpunkt der Angebotsabgabefrist nicht älter als 12 Monate und der Gesamtzustand als neuwertig zu bewerten ist und sämtliche Vorgaben der Leistungsbeschreibung erfüllt.