Bei dem Ausschreibungsgegenstand handelt es sich um ein Röntgen‐Photoelektronen-Spektrometer (X‐ray Photoelectron Spectroscopy, XPS).

Beschafft werden soll ein mit mikrofokussierter monochromatisierter Al- und Ag‐Röntgenstrahlung sowie mono‐Ar/Ar‐Clusterionenquelle ausgestattetes Spektrometer.

Zentrale Technik ist XPS inklusive winkelabhängiger Messungen und parallel gemessener Element‐/Chemieverteilungsbilder.

Das Spektrometer wird darüber hinaus über die Techniken UPS (UV Photoelectron Spectroscopy), ISS (Ion Scattering Spectroscopy) und REELS (Reflected Electron Energy Loss Spectroscopy) verfügen müssen.

Inertgas-Transfer von Proben zu den vorhandenen Spektrometern ist ebenfalls vorgesehen.

Dieses Spektrometer soll die in der Gruppe „Oberflächenanalytik“ des „Instituts für Angewandte Materialien/Energiespeichersysteme“ (IAM-ESS) vorhandenen XPS-Instrumente ergänzen und zusammen mit dem vorhandenen komplementären Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer über Jahre Oberflächenanalytik auf höchstem Niveau ermöglichen.