Scanning electron microscopes | Tenderlake

Scanning electron microscopes

Contract Value:
EUR 362K - 362K
Notice Type:
Contract award notice
Published Date:
15 January 2021
Closing Date:
Location(s):
DE916 Goslar (DE Germany/DEUTSCHLAND)
Description:
Hochauflösendes REM System mit EDX für CLEM Einsatz

Gegenstand der Ausschreibung sind die Lieferung, Aufbau, Montage und Inbetriebnahme eines „Hochauflösenden REM System mit EDX für CLEM Einsatz“, sowie die Einweisung in die Bedienung des Gerätes.

Metallographische Untersuchungen am Lichtmikroskop (LM) und am Rasterelektronenmikroskop (REM) sind unverzichtbare Standardmethoden in den Materialwissenschaften, insbesondere in der Metallurgie. Dabei ist es häufig erforderlich, für jede Probe die Ergebnisse aller verfügbaren Untersuchungsmethoden miteinander zu verknüpfen. Nur so kann das Verständnis der Mikrostruktur verbessert und Korrelationen ihrer Parameter untereinander und mit den makroskopischen Werkstoff- und Bauteileigenschaften herausgearbeitet werden.

Awarded to:
Lieferung „Hochauflösendes REM System mit EDX für CLEM Einsatz“
Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH, Carl-Zeiss-Str. 22, 72447 Oberkochen, Oberkochen (DE)
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The Buyer:
Technische Universität Clausthal
CPV Code(s):
38511100 - Scanning electron microscopes