Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja, uruchomienie i testowanie fabrycznie nowego stanowiska do charakteryzacji struktur elektronicznych dla azotkowych mikrofalowych monolitycznych układów scalonych w szerokim zakresie częstotliwości, składającego się z probera ostrzowego - stacji do pomiarów on wafer wraz z sondami mikrofalowymi, wektorowego analizatora sieci, źródła pomiarowego /układu zasilającego wraz z wyposażeniem pomocniczym, obsługą gwarancyjną, serwisem pogwarancyjnym, wsparciem technicznym użytkownika, dostępnością wszystkich części zamiennych, dokumentacją oraz szkoleniami.

Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja, uruchomienie i testowanie fabrycznie nowego stanowiska do charakteryzacji struktur elektronicznych dla azotkowych mikrofalowych monolitycznych układów scalonych w szerokim zakresie częstotliwości, składającego się z probera ostrzowego -stacji do pomiarów on wafer wraz z sondami mikrofalowymi, wektorowego analizatora sieci, źródła pomiarowego /układu zasilającego wraz z wyposażeniem pomocniczym, obsługą gwarancyjną, serwisem pogwarancyjnym, wsparciem technicznym użytkownika, dostępnością wszystkich części zamiennych, dokumentacją oraz szkoleniami. Wymagania i parametry techniczne przedmiotu zamówienia określone są w załączniku nr 1 do Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia udostępnionej na stronie http://www.ite.waw.pl/aktualnosci/zamowienia-publiczne/