Scanning electron microscopes | Tenderlake

Scanning electron microscopes

Contract Value:
EUR 1M - 1M
Notice Type:
Contract award notice
Published Date:
08 July 2022
Closing Date:
Location(s):
FRJ25 Lot (FR FRANCE)
Description:
Fourniture d'un microscope électronique à balayage et de ses équipements

Le présent avis de Marché a pour objet de définir les conditions selon lesquelles se déroulera l’appel d’offres relatif à la fourniture d’un Microscope Electronique à Balayage et de ses équipements.

Le CEA Gramat met en place, pour le Laboratoire Fabrication Assemblage et Caractérisation (LFAC) un marché pour l’achat :

• d’un Microscope Electronique à Balayage (MEB) double faisceau environnemental, très haute résolution, à technologie « effet de champ » (FEG), couplé à une colonne ionique « Focused Ion Beam » (FIB) ;

• d’un système de microanalyse constitué de deux détecteur EDS ;

• d’un outillage de polissage ionique à froid indépendant ;

• éventuellement d’un moyen d’analyse cristallographique par diffraction des rayons X (EBSD).

Le LFAC possède actuellement un MEB environnemental vieillissant qu’il souhaite remplacer par une nouvelle technologie. Cet ensemble d’appareils devra permettre de travailler à basse tension, avec une très bonne résolution, sur des matériaux organiques particulièrement sensibles, dont la caractérisation à l’échelle microscopique est nécessaire pour la compréhension de leur comportement. L’ensemble des appareils devra être pilotable à distance depuis un local voisin et posséder une grande chambre d’analyse.

Awarded to:
Fourniture d'un microscope électronique à balayage et de ses équipements
TESCAN FRANCE, FUVEAU (FR)
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The Buyer:
COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES - Direction des applications militaires - Centre de Gramat
CPV Code(s):
38511100 - Scanning electron microscopes