Aufgrund der gestiegenen Komplexität der am IHP gefertigten integrierten Schaltungen, steigen auch die Anforderungen an die Testausrüstung. Aus diesem Grund soll ein neues Test- und Debugsystem für integrierte CMOS Schaltungen ein altes System ablösen bzw. die Möglichkeiten des Testerlabors erweitern. Das Testsystem soll kompakt und leicht zu bedienen sein, d. h. es wird eine integrierte Testlösung inklusive zugehöriger Bedienungssoftware gesucht. Dieses Testsystem soll hauptsächlich für digitale Schaltungen eingesetzt werden, soll jedoch nicht darauf beschränkt sein.

Aufgrund der gestiegenen Komplexität der am IHP gefertigten integrierten Schaltungen, steigen auch die Anforderungen an die Testausrüstung. Aus diesem Grund soll ein neues Test- und Debugsystem für integrierte CMOS Schaltungen ein altes System ablösen bzw. die Möglichkeiten des Testerlabors erweitern. Das Testsystem soll kompakt und leicht zu bedienen sein, d. h. es wird eine integrierte Testlösung inklusive zugehöriger Bedienungssoftware gesucht. Dieses Testsystem soll hauptsächlich für digitale Schaltungen eingesetzt werden, soll jedoch nicht darauf beschränkt sein.

Anforderungen an das Testsystem:

— Mindestens 8 Spannungsversorgungskanäle (Device Power Supply (DPS) Channels).

o Min. Spannungsbereich: +/- 5V

o Min. 2 Kanäle bis 5A Ströme

o Gang-Möglichkeit (Koppeln von Kanälen um höhere Versorgungsströme zu erreichen)

o Programmable Clamp (Programmierbarer Überspannungsschutz)

o Möglichkeiten zur Strommessung

o Möglichkeit für Power Up/Down Sequenzen.