Fourniture d'un équipement à sonde ionique focalisée à double faisceau permettant la préparation et la découpe d'échantillons destinés à la microscopie et à la Sonde Atomique Tomographique ainsi que la réalisation de petits objets.
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Fourniture d'un équipement à sonde ionique focalisée à double faisceau permettant la préparation et la découpe d'échantillons destinés à la microscopie et à la Sonde Atomique Tomographique ainsi que la réalisation de petits objets.