Scanning electron microscopes | Tenderlake

Scanning electron microscopes

Contract Value:
EUR 55K - 495K
Notice Type:
Contract award notice
Published Date:
23 November 2017
Closing Date:
Location(s):
ES ESPAÑA (ES Spain/ESPAÑA)
Description:

Adquisición de microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con cátodo Schottky y sistema de recubrimiento de alto vacío.

Awarded to:
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con cátodo Schottky y sistema de recubrimiento de alto vacío
FEI EuropE BV — Sucursal en España, Madrid (ES)
Sistema de recubrimiento por sputtering y evaporación de hilo de carbono, de alto vacío para muestras de microscopía
Leica Microsistemas, S.L.U., Barcelona (ES)
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The Buyer:
Rector de la Universidad de Murcia
CPV Code(s):
38511100 - Scanning electron microscopes