    
                        Scanning electron microscopes
                    
                                Contract Value:
                                  - 
                                Notice Type:
                                Contract Notice
                            
                                Published Date:
                                11 May 2013
                                Closing Date:
                                17 June 2013
                            
                                Location(s):
                                        DE123 Karlsruhe, Landkreis (DE Germany/DEUTSCHLAND)
                            
                        Description:
                        
                        Zweistrahl-Rastermikroskop mit Elektronen- und Ionenstrahl (REM + FIB) zum Einsatz im Kontrollbereich
— Beschleunigungsspannung bis 3 kV
— Ga-Ionensäule

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                            The Buyer:
                            Karlsruher Institut für Technologie (KIT) Großforschungsbereich
                            
                            CPV Code(s):
                                38511100 - Scanning electron microscopes