Scanning electron microscopes | Tenderlake

Scanning electron microscopes

Contract Value:
EUR 705K - 705K
Notice Type:
Contract award notice
Published Date:
17 March 2021
Closing Date:
Location(s):
FRK25 Loire (FR FRANCE)
Description:
Fourniture d'un Microscope électronique à balayage (MEB) FEG haute résolution

La présente mise en concurrence porte sur la fourniture d'un microscope électronique à balayage FEG haute résolution pour le laboratoire Hubert Curien de l'Université Jean Monnet.

Fourniture d'un Microscope électronique à balayage (MEB) FEG haute résolution.

Awarded to:
Fourniture d'un Microscope électronique à balayage (MEB) FEG haute résolution
Jeol Europe SAS, Croissy-sur-Seine (FR)
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The Buyer:
Université Jean Monnet
CPV Code(s):
38511100 - Scanning electron microscopes