L’analyse par diffraction des rayons X est une analyse d’entrée dans la pyramide de caractérisation des matériaux à IFPEN. C’est la technique de référence pour évaluer :

• la nature et la quantité des différentes phases cristallines d’un solide

• certaines propriétés des cristaux : taille, morphologie, paramètre de maille (zéolithe), …

Cette technique concerne une large gamme d’application :

• Catalyse hétérogène et adsorption

• Systèmes électrochimiques (batteries, piles à combustible)

• Corrosion

L’objectif est de disposer d’un équipement de diffraction des rayons X qui permette de réaliser des analyses précises et robustes le plus rapidement possible.