Lieferung eines Transmissions-Elektronen-Mikroskops (TEM) mit 300 keV Acceleration Voltage und Ultrahochauflösung im STEM- und Imaging-Modus für geowissenschaftliche Anwendungszwecke.
Lieferung eines Transmissions-Elektronen-Mikroskops (TEM) mit 300 keV Acceleration Voltage und Ultrahochauflösung im STEM- und Imaging-Modus für geowissenschaftliche Anwendungszwecke.