Scanning electron microscopes | Tenderlake

Scanning electron microscopes

Contract Value:
-
Notice Type:
Contract award notice
Published Date:
19 December 2018
Closing Date:
Location(s):
DE404 Potsdam, Kreisfreie Stadt (DE Germany/DEUTSCHLAND)
Description:

Lieferung eines Transmissions-Elektronen-Mikroskops (TEM) mit 300 keV Acceleration Voltage und Ultrahochauflösung im STEM- und Imaging-Modus für geowissenschaftliche Anwendungszwecke.



Lieferung eines Transmissions-Elektronen-Mikroskops (TEM) mit 300 keV Acceleration Voltage und Ultrahochauflösung im STEM- und Imaging-Modus für geowissenschaftliche Anwendungszwecke.

Awarded to:
Transmissions-Elektronen-Mikroskop (TEM)
FEI Deutschland GmbH, Dreieich (DE)
Download full details as .pdf
The Buyer:
Helmholtz-Zentrum Potsdam, Deutsches GeoForschungsZentrum GFZ – Einkauf
CPV Code(s):
38511100 - Scanning electron microscopes