Scanning electron microscopes | Tenderlake

Scanning electron microscopes

Contract Value:
EUR 1M - 1M
Notice Type:
Contract award notice
Published Date:
20 October 2023
Closing Date:
Location(s):
ITI43 Roma (IT Italy/ITALIA)
Description:
Fornitura di apparati microanalitici (microscopio elettronico a scansione dual beam e microsonda elettronica)

Fornitura di apparati microanalitici (microscopio elettronico a scansione dual beam e microsonda elettronica)


Fornitura di microscopio elettronico a scansione dual beam

Fornitura di Apparati microanalitici avente ad oggetto microscopio elettronico a scansione dual beam


Fornitura di microsonda elettronica completa di strumentazione per la preparazione del campione

Fornitura di Apparati microanalitici (microscopio elettronico a scansione dual beam e microsonda elettronica)

Awarded to:
Fornitura di microscopio elettronico a scansione dual beam
FEI ITALIA SRL, Milano (IT)
Fornitura di microsonda elettronica completa di strumentazione per la preparazione del campione
JEOL (ITALIA) S.p.A., Basiglio (MI) (IT)
Download full details as .pdf
The Buyer:
ISTITUTO NAZIONALE DI GEOFISICA E VULCANOLOGIA
CPV Code(s):
38511100 - Scanning electron microscopes