Scanning electron microscopes

Contract Value:: EUR 984K - 984K
Notice Type:: Contract award notice

Published Date:: 15 September 2023
Closing Date:

Location(s):: DE300 Berlin (DE Germany/DEUTSCHLAND)

Description:

Analytisches Hochleistungs-FE-REM mit Hoch- und Niedrigauflösung für Abbildung, EBSD (TKD) und EDX im Hoch- sowie Niedrigvakuum

Analytisches Hochleistungs-FE-REM mit Hoch- und Niedrigauflösung für Abbildung, EBSD (TKD) und EDX im Hoch- sowie Niedrigvakuum gemäß Leistungsbeschreibung und Vergabeunterlagen

Awarded to:: Analytisches Hochleistungs-FE-REM mit Hoch- und Niedrigauflösung für Abbildung, EBSD (TKD) und EDX im Hoch- sowie Niedrigvakuum; Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH, Oberkochen (DE)

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The Buyer:: Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

CPV Code(s):: 38511100 - Scanning electron microscopes