Scanning electron microscopes | Tenderlake

Scanning electron microscopes

Contract Value:
EUR 532K - 532K
Notice Type:
Contract award notice
Published Date:
26 May 2023
Closing Date:
Location(s):
ITG17 Catania (IT Italy/ITALIA)
Description:
Fornitura, installazione e resa operativa di un “Microscopio Elettronico a scansione con sorgente ad emissione di campo(FE-SEM)”_ CIG 965090960C

Fornitura, installazione e resa operativa di un “Microscopio Elettronico a scansione con sorgente ad emissione di campo(FE-SEM)”_ CIG 965090960C

Acquisizione della fornitura, installazione e resa operativa di un “Microscopio Elettronico a scansione con sorgente ad emissione di campo(FE-SEM)”_ CIG 965090960C

nell'ambito del progetto di potenziamento Infrastrutturale denominato Beyond_Nano.

CUP: G66J17000350007

Awarded to:
Fornitura, installazione e resa operativa di un “Microscopio Elettronico a scansione con sorgente ad emissione di campo(FE-SEM)”_ CIG 965090960C
Jeol (Italia) spa, Basiglio (IT)
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The Buyer:
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - Consiglio Nazionale delle Ricerche
CPV Code(s):
38511100 - Scanning electron microscopes