Acquisition d'un équipement en microscopie électronique à balayage (FEG LV STEM) pour l'unité MICALIS du centre INRA de Jouy-En-Josas.

La présente consultation a pour objet la fourniture, la livraison, l'installation, la mise en service ainsi que la formation à l'utilisation d'un Microscope Électronique à Balayage (MEB) à effet de champ (Feg) à pression contrôlée équipé d'un système complet pour l'imagerie Stem(Scanning Transmission Électron Microscopy) et d'une platine froide (module Peltier).

Le descriptif complet des prestations est détaillé dans le CCTP joint aux documents de la consultation.